TUCplus Gerätelabor

Institut für Anorganische und Analytische Chemie
Institut für Metallurgie
Institut für Nichtmetallische Werkstoffe
Institut für Organische Chemie
Institut für Physik und Physikalische Technologien
Institut für Physikalische Chemie
Institut für Polymerwerkstoffe und Kunststofftechnik
Institut für Technische Chemie
Institut für Werkstoffkunde und Werkstofftechnik

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Institut für Analytische und Anorganische Chemie

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Röntgen-Einkristalldiffraktometer Stoe IPDS II	XRD	Strukturanalytik, Einkristallstrukturbestimmungen mittels Röntgenbeugung im Temperaturbereich von 80–400K	0200	M. Gjikaj U. Peters	2887 mimoza.gjikaj@ tu-clausthal.de
Röntgen-Pulverdiffraktometer STADI P	XRD	Strukturanalytik, temperaturabhängige Röntgendiffraktometrie von 80–1250K, Phasenanalysen	0200	M. Gjikaj U. Peters	2887 mimoza.gjikaj@ tu-clausthal.de
Röntgen-Einkristalldiffraktometer CAD 4	XRD	Strukturanalytik, Einkristallstrukturbestimmungen mittels Röntgenbeugung im Temperaturbereich von 80–400K	0200	M. Freytag Cl. Ehrhardt	2486 martin.freytag@ tu-clausthal.de
Röntgen-Generator mit Röhrenhaube FR 509	XRD	Strukturanalytik röntgenographische Phasenalaysen an mikrokristallinen Substanzen	0200	M. Freytag Cl. Ehrhardt	2486 martin.freytag@ tu-clausthal.de
FTIR/FT-Raman-Spektrometer Bruker IFS 66v mit Raman-Modul FRA 106	FTIR/ FT-Raman	Spektroskopie und Strukturanalytik: hochauflösende Schwingungsspektroskopie	0200	M. Gjikaj K. Bode	2887 mimoza.gjikaj@ tu-clausthal.de
Hochtemperatur Differential Scanning Calorimeter Linseis HDSC 1550	DSC	Thermoanalytik, DSC/DTA-Messungen von 20–1550°C, Erstellung von Phasendiagrammen, Aufklärung von Abbaureaktionen auch in reduzierenden Atmosphären	0200	D. Vollbrecht A. Strohschein	2608 dirk.vollbrecht@ tu-clausthal.de
Magnetschwebewaage Rubotherm	TG	Thermoanalytik: Thermogravimetrie nach dem Magnetschwebewaagen-Prinzip, präparative Thermogravimetrie, Messungen unter aggressiven Atmosphären und unter Druck	0200	D. Vollbrecht Cl. Ehrhardt	2608 dirk.vollbrecht@ tu-clausthal.de
Modulated Differential Scanning Calorimeter TA 2920	DSC	Thermoanalytik: DSC-Messungen von 20–750°C, Erstellen von Phasendiagrammen	0200	D. Vollbrecht A. Strohschein	2608 dirk.vollbrecht@ tu-clausthal.de
Differential Scanning Calorimeter TA 910	DSC	Thermoanalytische Bestimmungen, Erstellen von Phasendiagrammen	0200	D. Vollbrecht A. Strohschein	2608 dirk.vollbrecht@ tu-clausthal.de
Differential Thermal Analyzer TA 1600	DTA	Thermoanalytik: DTA-Messungen bis 1600°C	0200	D. Vollbrecht A. Strohschein	2608 dirk.vollbrecht@ tu-clausthal.de
Thermogravimetric Analyzer TA 951	TG	Thermoanalytik: Thermogravimetrische Untersuchungen von 20–950°C	0200	D. Vollbrecht A. Strohschein	2608 dirk.vollbrecht@ tu-clausthal.de
Dilatometer 402 EP	TG	Thermoanalytik: Thermomechanische Längenausdehnung, Schmelzpunktbestimmungen	0200	D. Vollbrecht A. Strohschein	2608 dirk.vollbrecht@ tu-clausthal.de
Glove Box M.Braun UniLab 2000		Präparation und Probenvorbereitung in sauerstoff- und feuchtigkeitsfreier Atmosphäre, integriertes Polarisationsmikroskop	0200	M. Freytag U. Peters	2486 martin.freytag@ tu-clausthal.de
Glove Box M.Braun UniLab		Präparation und Probenvorbereitung in sauerstoff- und feuchtigkeitsempfindlicher Substanzen	0200	M. Freytag U. Peters	2486 martin.freytag@ tu-clausthal.de
UV/VIS-Spektrometer Shimadzu UV-2501 PC	UV/VIS	Spektroskopie: Charakterisierung von Elektronenübergängen, Fotometrische Bestimmungen	0200	M. Gjikaj	2887 mimoza.gjikaj@ tu-clausthal.de
UV/VIS-Spektrometer Cary 1E	UV/VIS	Charakterisierung von Elektronenübergängen, Fotometrische Bestimmungen	0200	M. Gjikaj	2484 mimoza.gjikaj@ tu-clausthal.de
UV-VIS Spektrometer Lambda 40	UV/VIS	Spektroskopie: Lebensmittel, Naturstoffe, Komplexverbindungen	0200	M. Gjikaj P. Lassen	2996 mimoza.gjikaj@ tu-clausthal.de
Elementaranalyzer Heraeus CHNS		Elementaranalyse: C, H, N, S-Analysator	0200	K. Bode	2606 karin.bode@ tu-clausthal.de
Atomabsorptionsspektrometer, Perkin-Elmer Flammen-AAS	F-AAS	Elementaranalyse: Gehaltsbestimmungen im Spuren- und Ultraspurenbereich, Gesamtgehalte	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Graphitrohr-AAS	GF-AAS	Elementaranalyse: Gehaltsbestimmungen im Spuren- und Ultraspurenbereich, Gesamtgehalte	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Atomabsorptionsspektrometer Multi-Element-AAS SIMAA 6000	AAS	Elementaranalyse: Multi-Element-Bestimmung im Spuren- und Ultraspurenbereich	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
ICP-OES Spectroflame SPECTRO	ICP-OES	Elementaranalyse: Multi-Element-Bestimmung, Übersichtsanalysen	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
HPLC-Anlage	HPLC	Analytik aus Supermarktprodukten, Komplexchemie	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
HPLC-Anlage	HPLC	Naturstoffanalytik, Analytik Organischer Substanzen	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Ionenchromatographie mit Leitfähigkeitsdetektion	IC	Elementar- und Elementspeziesanalytik	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Polarographie und Voltammetrie		Analytik von Elementspezies in verschiedenen Oxidationsstufen	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Lumineszenzspektrometer LS 50		Spektroskopie, Analytik	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Kapillarelektrophorese Biofocus 3000		Analytik organischer und anorganischer Bindungsformen	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Photometer CADAS 50		Bestimmung von org. und anorg. Komponenten mit Fertigtestsätzen, Enzymreaktionen/Enzymhemmtests/Toxizitätsbeurteilung	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de
Leuchtbakterientest LUMISTOX		Toxizitätstest verschiedener Verbindungen oder bestimmter Bindungsformen	0200	P. Lassen	2996 petra.lassen@ tu-clausthal.de

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Institut für Metallurgie

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Glimmentladungs- Atomspektrometer	GDOS	Materialanalysen (qualitativ, quantitativ) Tiefenprofile bis 100µm, min. 20mm Durchmesser porenfrei	0500	T. Möller, B. Brinkhaus	2429 thomas.moeller@ tu-clausthal.de
Auflichtmikroskop BX60		Auflicht Mikroskopie Phasenanalyse	0500	B. Brinkhaus	2648 bernd.brinkhaus@ tu-clausthal.de
Omicron XPS/URS/STM/AFM	XPS/URS/STM/AFM	Oberflächen-, Strukur-, Chemische-Analyse	0500	F. Endres	3141 frank.endres@ tu-clausthal.de
Picoscan STM+AFM	STM+AFM	Oberflächen-, Strukur-, Chemische-Analyse	0500	F. Endres	3141 frank.endres@ tu-clausthal.de
Raster-Elektronenmikroskop CamScan 44	REM	Materialanalysen (qualitativ, quantitativ) Darstellung der Oberflächentopographie z.B. Ermittlung von Schichtdicken und Elementverteilungsbilder	0500	S. Lenk, B. Mühlhan	2429 bernd.brinkhaus@ tu-clausthal.de
Röntgendiffraktometer Siemens D5000	RDF	Pulverdiffraktometrie, Einkristalldiffraktometrie, Phasenidentifikation	0500	B. Brinkhaus	2649 guenter.borchardt@ tu-clausthal.de
Auflichtmikroskop Zeiss Axiphot		Bildaufnahme, Flächenscans, Partikeldetektion	0500	B. Brinkhaus	2648 bernd.brinkhaus@ tu-clausthal.de

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Institut für Nichtmetallische Werkstoffe

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Mikroskopheiztisch		Temperaturverhalten bis 1500 °C unter dem Mikroskop beobachten; max. 150 mg	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Erhitzungsmikroskop		Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Erhitzungsmikroskop		Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Optisches Dilatometer		Thermischer Ausdehnungskoeffizient, Glastransformationstemperatur	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Laser Flash Apparatur	LFA	Bestimmung der Wärme- und Temperaturleitfähigkeit, inerte Atmosphäre, bis 1500 °C	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Dynamische Differenzkalorimetrie	DDK (DSC)	Thermische Analyse, Cp	1220	J. Löschmann	3826 (jessica.loeschmann@tu-clausthal.de)
Thermogravimetrische Analyse mit ergänzender Differentialtkalorimetrie	TGA/DSC	Gravimetrische Analyse mit simultaner Differentialthermoanalyse	1220	J. Löschmann	3826 (jessica.loeschmann@tu-clausthal.de)
Chip-Kalorimetrie	FDSC	Thermische Analyse mit sehr hohen Heiz- und Kühlraten von 0.1 bis 40000 K/s	1220	J. Löschmann	3826 (jessica.loeschmann@tu-clausthal.de)
Simultane thermische Analyse - Massenspektrometrie	STA-MS	Differentialthermoanalyse, Thermogravimetrie und Erfassung der entweichenden Gase	1220	C. Rust	4906 (christian.rust@tu-clausthal.de)
Drehrohrofen		Max. 1200 °C; 1 bis 11 Umdrehungen pro Minute	1220	N.N.
Hochtemperatur-Laboröfen		Temperaturbehandlung	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Vakuumofen		Maximum 700 °C, Vakuum 1*10^-2 mbar, Aufzeichnung p, T-Verlauf möglich	1220	N.N.
Klimakammer		Temperaturen von -40 °C bis 150 °C bei 30% bis 95% r.F.	1220	T. Peter	2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Isothermal Kalorimeter		Messung der Hydratationsenergie, Lösungen und Suspensionen, zwischen 5 bis 90 °C	1220	N. Hbib	3697 (nasser.hbib@tu-clausthal.de)
Rotationsviskosimeter		Scherviskosität	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Parallel-Platten-Viskosimeter		Viskosität, Parallel-Plattengeometrie bzw. Kugelindentor	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Balkenbiegeviskosimeter		Viskosität, Balkenbiegegeometrie	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Rheometer		Viskosität	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Polarimeter		Bestimmung der Spannungsdoppelbrechung von transparenten Materialien, Messung in linear und zirkular polarisiertem Licht	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Spektrophotometer, Farbmessgerät		Farbortbestimmung in verschiedenen Farbräumen	1220	T. Peter	2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Infrarotspektrometer	FTIR	Transmission, Reflexion, 1 - 25 µm	1220	G. Helsch	2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
UV/VIS-Spektroskopie	UV/VIS	Transmission, Reflexion, 190 - 1100 nm	1220	G. Helsch	2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
Sekundärneutralteilchen Massenspektrometer	SNMS	Atomkonzentrationsprofile, nm-Tiefenauflösung	1220	T. Peter	2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Fokussierter Ionenstrahl - Feldelektronenmikroskop	FIB-FESEM	Messmethoden: SEM, STEM, EBSD, EDX	1220	R. Gustus	3346 (rene.gustus@tu-clausthal.de)
Digitales Laserscanning Mikroskop		3D-Ansicht, Topografie, Oberflächenrauheit, Vermessung	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Elektrokinetische Schallanalyse		Isoelektrischer Punkt, Zeta-Potential	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Rasterelektronenmikroskop	REM (SEM)	Elektronenmikroskopie mit EDX	1220	T. Peter	2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Lichtmikroskop		Auflicht und Transmission, Optische Analyse	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Weißlichtinterferometer		Oberflächentopografie, Oberflächenrauheit, 8 mm laterales Sichtfeld	1220	T. Peter	2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Spektralphotometer		Chemische Analyse von An- und Kationen in wässrigen Lösungen	1220	C. Rust	4906 (christian.rust@tu-clausthal.de)
UV/VIS/IR-Spektroskopie	UV/VIS/IR	Solare Transmission, Reflexion, 250 - 3000 nm, Integrationskugel	1220	G. Helsch	2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
Raman Spektrometer		Konfokales Raman-Mikroskop, 532 nm Laser	1220	J. Löschmann	3826 (jessica.loeschmann@tu-clausthal.de)
Kontaktwinkelmessgerät		Kontaktwinkelbestimmung auf Oberflächen, Oberflächenspannung	1220	T. Peter	2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Glanzmessgerät		Messung des Glanzwinkels unter 20° 60° 85°, Reflexion der Oberfläche	1220	T. Peter	2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Gyrator		Verdichtung erdfeuchter Proben	1220	N.N.
Laser-Doppler-Vibrometer		elastische Konstanten (E-Modul)	1220	N.N.
Schallmessgerät		Bestimmung der Schallgeschwindigkeit und der elastschen Konstanten	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Geopyknometer		Rohdichte, Porosität	1220	N.N.
Laserbeugungs-Partikelgrößenanalyse		Korngrößenverteilung im Bereich 0,04 µm - 2000 µm	1220	N.N.
Beschleunigtes Oberflächen- und Porosimetrie-System	BET	spezifische Oberfläche	1220	N.N.
Schwindkegel		Verhalten der Längenänderung, Schwindung bzw. Dehnung, Temperatur und Luftfeuchtigkeit	1220	F. Elsner	2172 (felix.elsner@tu-clausthal.de)
Gasabsorptionsanalyse		Mischen und Konditionieren von Gasen zur Untersuchung von z.B. Gas-Feststoffreaktionen	1220	N.N.
Ultraschallmesszelle für Erstarrung		Reaktionsverläufe, E-Modul	1220	N.N.
Edelgaspyknometer / Heliumpyknometer		Dichtebestimmung, Keimdichte	1220	N.N.
Mikroindenter			1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Röntgendiffraktometer	RDF (XRD)	Kristallphasen, Tief/Hochtemperaturkammer (-190 °C bis 1200 °C), dünne Schichten	1220	G. Helsch	2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
Röntgendiffraktometer	RDF (XRD)	Kristallstruktur	1220	M. Zellmann	2474 (michael.zellmann@tu-clausthal.de)
Röntgenfluoreszenzspektrometer	RFA (XRF)	chemische Analysen ab Ordnungszahl 4	1220	M. Zellmann	2474 (michael.zellmann@tu-clausthal.de)
Nasslöschkurve	NLK	Reaktivität von Branntkalk mit pdv-nlk3	1220	N.N.
Titration		Freikalk nasschemisch u.a.	1220	C. Rust	4906 (christian.rust@tu-clausthal.de)
Handschuhbox		Atmosphärischer Wassergehalt bis 150 ppm in N2-Atmosphäre	1220	H. Bornhöft	2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)

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Institut für Organische Chemie

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Kernmagnetisches Resonanz- Spektrometer 400 MHz	FT-NMR	Strukturaufklärung, Protonen- und ¹³C- sowie Heterokern-NMR-Messungen	1800	J. Namyslo	2054; 2833 jan.namyslo@ tu-clausthal.de
Kernmagnetische Resonanz- Spektrometer 200 MHz	FT-NMR	Strukturaufklärung, Protonen- und ¹³C-NMR-Messungen	1800	J. Namyslo	2054; 2833 jan.namyslo@ tu-clausthal.de
Gaschromatograph- Massenspektrometer mit Elektronenstoß-Ionisation	GC-MS, EI	Strukturaufklärung organischer Verbindungen und Materialien, Molekül- und Fragmentionen (Molmasse)	1800	A. Schmidt	3861 schmidt@ioc. tu-clausthal.de
Hochdruckflüssigkeitschromatograph- Massenspektrometer mit Elektronenstoß-Ionisation	HPLC-MS, EI	Strukturaufklärung, Analytik polarer Substanzen, auch höhermolekularer Materialien	1800	A. Schmidt	3861 schmidt@ioc. tu-clausthal.de
Infrarotspektrometer	FT-IR	Schwingungsspektroskopische Substanzcharakterisierungen	1800	J. Namyslo	2054; 2833 jan.namyslo@ tu-clausthal.de
UV-Spektrometer	UV-VIS	UV-Absorptionsverhalten	1800	J. Namyslo	2054; 2833 jan.namyslo@ tu-clausthal.de
Polarimeter		Bestimmung des Drehwertes optisch aktiver Substanzen	1800	M. Ries	2454 monika.ries@ tu-clausthal.de
Differential Scanning Calorimeter	DSC	DSC-Messungen an organischen Materialien, 20-350°C	1800	B. Stövesand	2833 birgit.stoevesand@ tu-clausthal.de

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Institut für Physik und Physikalische Technologien

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
FTIR-Spektrometer Bruker IFS 66V/S	FTIR		1700	B. Braunschweig	3117 bjoern.braunschweig@tu-clausthal.de
Summenfrequenz-Schwingungs-Spektroskopie		Summenfrequenz-Schwingungs-Spektroskopie an Fest-Flüssig-Grenzflächen	1700	B. Braunschweig	3117 bjoern.braunschweig@tu-clausthal.de
Photoelektronen-Emissions-Mikroskop	PEEM	Mehrphotonen-Photoemission mit lateraler Auflösung, Abbildung der lateralen Verteilung unbesetzter Zustände	1700	G. Lilienkamp	3615 gerhard.lilienkamp@ tu-clausthal.de
Low Energy Electron Microscope	LEEM	Wachstum und Interdiffusion ultradünner Schichten, chemische Reaktionen an Oberflächen	1700	G. Lilienkamp	3615 gerhard.lilienkamp@ tu-clausthal.de
Funkenerosionsmaschine Servomet		Probenvorbereitung, Schneiden von Einkristallen	1700	Peter Cyris	2373/2296 peter.cyris@ tu-clausthal.de
Auger-Mikrosonde Physical Electronics 595		Interdiffusion an Grenzflächen, Segregation, Degradation/Korrosion von dünnen Schichten und Oberflächen, Dotierung von Wellenleitern	1700	Peter Cyris	2373/2296 peter.cyris@ tu-clausthal.de
Rasterkraftmikroskop Dimension 3100 mit Nanoscope IIIa Controller	AFM	Analyse deponierter dünner Schichten, Untersuchung Oberflächentopographie, hochauflösende laterale Materialuntersuchung, Defektanalyse von ultradünnen Oxidschichten	1700	Peter Cyris	2373/2296 peter.cyris@ tu-clausthal.de
fs-Lasersystem		Second-Harmonic-Generation an Luft-Festkörper-, Vakuum-Festkörper- und Festkörper-Festkörper-Grenzflächen, lateral aufgelöste Mehrphotonen Photoemission	1700	W. Daum	3144 winfried.daum@ tu-clausthal.de
Rastertunnelmikroskop: Molecular Imaging Picoscan 2100	RTM	Elektrochemische Rastertunnelmikroskopie an Metall-Elektrolyt-Grenzflächen und Metall-Gas-Grenzflächen	1700	B. Braunschweig	3117 bjoern.braunschweig @tu-clausthal.de
Multimethoden-Apparatur zur Analyse von Ober- und Grenzflächen	XPS/UPS	Valenzband- und Rumpfniveau-Elektronenspektroskopie an Festkörperoberflächen	1700	F. Voigts	2756 F.Voigts@ pe.tu-clausthal.de
Multimethoden-Apparatur zur Analyse von Ober- und Grenzflächen	AFM/STM	Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie im Ultrahochvakuum	1700	L. Klarhöfer	2745 L.Klarhoefer@ pe.tu-clausthal.de
Raster-Elektronen-Mikroskop JEOL JSM 6400	REM	Rasterelektronenmikroskop zur Analyse von Oberflächen	1700	E. Pachomov	3626 E.Pachomov@ pe.tu-clausthal.de
Multimethoden-Apparatur zur Analyse von Ober- und Grenzflächen bei Temperaturen zwischen 100K und 600K	XPS/UPS TPD	Valenzband- und Rumpfniveau-Elektronenspektroskopie an Festkörperoberflächen, Thermische Desorptionsspektroskopie	1700	L. Klarhöfer	2745 L.Klarhoefer@ pe.tu-clausthal.de
Reinraum		Lithographie zur Herstellung von optischen Wellenleiterstrukturen	1700	C. Rüter	3621 c.rueter@pe. tu-clausthal.de
Rasterelektronenmikroskop JAMP 30, JEOL	REM		1700
Optischer Vielkanalanalysator OMA4, EG&G Princton Applied Research		Laserspektroskopie	1700	C. Bauer	4855 christoph.bauer@ tu-clausthal.de
Röntgendiffraktometer D5000	RDF	Texturmessanlage	1700	R. Schwarzer	robert.schwarzer@ tu-clausthal.de
Gatan Ultrasonic Diskcutter 601 (Kernbohrer)		TEM-Probenvorbereitung	1700	R. Schwarzer	robert.schwarzer@ tu-clausthal.de
Gatan Dimple-Grinder		TEM-Probenvorbereitung	1700	R. Schwarzer	robert.schwarzer@ tu-clausthal.de

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Institut für Physikalische Chemie

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop	CLSM	Diffusionsverhalten in Polymerlösungen und –netzwerken, Abbildung von Partikeln, gefüllten u./o. inhomogenen	1820	Arne Langhoff	2527/3659 arne.langhoff@ tu-clausthal.de
Röntgendiffraktometer Bruker D8 Discover	RDF		1820	Oleksiy Starykov	2898 starykov00@ yahoo.com
Analytische Ultrazentrifuge Beckmann CO-XLA 70		Eigenschaften von Polyelektrolytlösungen	1820	Jörg Adams	3171 adams@pc. tu-clausthal.de
Rasterkraftmikroskop, Digital Instruments	AFM		1820	Judith Petri	3660 judith.petri@ tu-clausthal.de
Dynamische Lichtstreuung ALV CGS-3			1820	Julia Gansel	2884 julia.gansel@ tu-clausthal.de
Differential Scanning Calorimeter Perkin-Elmer DSC 7	DSC		1820	Astrid Peschel	3662 astrid.peschel@ tu-clausthal.de
Rheometer Bohlin Gemini			1820	Astrid Peschel	3662 astrid.peschel@ tu-clausthal.de
Infrarot-Spektrometer Perkin-Elmer-Spektrum BX	IR		1820	Michael Tölle	3660/3127 michael.toelle@ tu-clausthal.de
Dynamisch-mechanische Thermoanalyse, GABO Qualimeter			1820	Jörg Adams	3171 adams@pc. tu-clausthal.de
Statische Lichtstreuung Fica			1820	Jörg Adams	3171 adams@pc. tu-clausthal.de
Zeitaufgelöste Fluoreszenzspektroskopie			1820	Jörg Adams	3171 adams@pc. tu-clausthal.de
Stationäres Fluoreszenzspektrometer SPEX Fluorolog 2			1820	Jörg Adams	3171 adams@pc. tu-clausthal.de
UV/VIS-Spektrometer JASCO V-550	UV/VIS		1820	Jörg Adams	3171 adams@pc. tu-clausthal.de
Spincoater SCS G3-P8			1820	Judith Petri	3660 judith.petri@ tu-clausthal.de
Potentiostat PGU 10 Jaissle			1820	Johanna Bünsow	2635 johanna.buensow @tu-clausthal.de
Quarzmikrowaage HP 4396 A			1820	Johanna Bünsow	2635 johanna.buensow @tu-clausthal.de
Ellipsometer, ELX-02C			1820	Arne Langhoff	2527/3659 arne.langhoff@ tu-clausthal.de
Dynamische Lichtstreuung ALV			1820	Arne Langhoff	2527/3659 arne.langhoff@ tu-clausthal.de
Ausschlusschromatographie			1820	Ralf Student	3315/2898 ralf.student@ tu-clausthal.de
Fluoreszenzorientierungsanalysator OPOS			1820	Oleksiy Starykov	2898 starykov00@ yahoo.com

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Institut für Polymerwerkstoffe und Kunststofftechnik

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Allzweckprüfmaschine		Zug, Druck, Biegung, 100 bzw. 2,5kN-Messdose, Makroaufnehmer, Raumtemp. (Zwick)	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de
TA 2920 DSC	DSC	Modulierte DSC (MDSC), Temp.-Bereich: –100 – 650°C	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de
TA HiRes TGA 2950	TGA	Messbereich: –100 – 1000°C	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de
TA DMA 2980	DMA	Film, Faser, Drei-Punkt-Biegung, Torsion, Penetration, Kompression, Single- und Dual-Cantilever, T-Bereich: –100 – 650°C	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de
Dataphysics-Tensiometer	Tensiometer	Oberflächenspannung u. -energie, Ring, Platte, div. Probenhalter	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de
Netzsch TCA 200-LT/A	Wärmeleitfähigkeitsmesser	Runde Kunststoffproben (mittlerer Leitfähigkeitsbereich), bis jeweils zum Schmelzezustand messbar	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de
Rheolyst AR 1000-N	Rheometer	Platte-Platte, Kegel-Platte, Torsion, Oszillierend, T-Bereich bis 350°C	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de
Ultraschallprüfanlage USPC 3040	US-Prüfung	Pulser/Receiver-Karte HILL-SCAN 3040, 8 bit 100MSamples/s, Tauchtechnikprüfkopf (5MHz), Hillgus & Oculus, A-, C- und D-Bilder	1900	Cem Turan	2602 cem.turan@ tu-clausthal.de
Zwick 5113	Schlagpendel	Charpy, gekerbt, ungekerbt, 1J- & 5J-Hammer	1910	Petra Dröttboom	2425 petra.droettboom@ tu-clausthal.de

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Institut für Technische Chemie

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Spektralphotometer	UV-VIS		0606
Gelpermeations- chromatograph	GPC	Molmassenbestimmung	0606	M. Heinz	2785 martina.heinz@ tu-clausthal.de
Differentialthermoanalyse/ Thermogravimeter	DTA/TG	Thermische Analyse	0606	U. Koecher	2785 ulrike.koecher@ tu-clausthal.de
Viskosimeter, Rheometrics			0606	B. Holly	3165 barbara.holly@ tu-clausthal.de
Viskosimeter, Schott AG			0606
Schmelzindexprüfgerät, CEAST			0606
Schmelzindexprüfgerät, CSI			0606	B. Holly	3165 barbara.holly@ tu-clausthal.de
Elementaranalysator CHONS		Elementanalysen für C, H, O, N, S	0606	W. Bischof	2273 Werner.Bischof@ tu-clausthal.de
Materialprüfmaschine			0606
Massenspektrometer, MALDI-TOF	MS		0606
Infrarotspektrometer	FTIR		0606	U. Koecher, B. Holly	2785 ulrike.koecher@ tu-clausthal.de
Leitfähigkeitsmessgerät			0606
Partikelgrößenanalysator			0606

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Institut für Werkstoffkunde und Werkstofftechnik

Gerätebezeichnung	Kurzform	Zweck, Bestimmungsparameter	Gebäudenr.	Verantwortlich	Tel/email
Atomemissions- Spektrometer	AES	Elementanalyse in Metallurgie, Metallverarbeitung, Metallherstellung, Typ Spectrolab	1910	D. Brinkmann F. Jörn	2759 franziska.joern@tu- clausthal.de
Atomemissions- Spektrometer	AES	Elementanalyse in Metallurgie, Metallverarbeitung, Metallherstellung, Typ Spectromax	1910	D. Brinkmann F. Jörn	2759 dieter.brinkmann@tu- clausthal.de
Auflichtmikroskop mit CCD Kamera		Materialografie, Gefügeanalyse, Pol.-Licht	1910	D. Brinkmann J. Schumann	2759 dieter.brinkmann@tu- clausthal.de
Auflichtmikroskopmit Zeiss AXIO-CAM		Materialografie, Gefügeanalyse, Pol.-Licht, DIC, Steuerelektronik mot/cod. Komponenten	1910	D. Brinkmann J. Schumann	2171; 2759 joerg.schumann@tu- clausthal.de
Halbautomatisches softwaregesteuertes Vickers Härteprüfgerat		Phasenmessung, dünne Schichten	1910	D. Brinkmann J. Schumann	2171; 2759 joerg.schumann@tu- clausthal.de
Amplitudenabhängige innere Reibung	ADIF	Innere Reibung, E-modul, große mech. Spannungsamplituden bis zum Dauerbruch	0300	A. Mielczarek	2599 agnieszka.mielczarek@tu- clausthal.de
Spannungsrelaxations- messgerät mit Thermostat		Spannungsrelaxationen	0300	A. Mielczarek	2599 agnieszka.mielczarek@tu- clausthal.de
Hystereograph		Koerzitivfeldstärke, Remanenz, Sättigungspolarisation etc.	0300	A. Mielczarek	2599 agnieszka.mielczarek@tu- clausthal.de
Elastomat		Bestimmung v. Logarithmischem Dekrement u. Gitterfaktoren	0300	A. Mielczarek	2599 agnieszka.mielczarek@tu- clausthal.de
Thermoanalysegerät Bähr DIL 802		Messung Längenausdehnung, Längenausdehnungskoeffizient	0910	P. König	2461 peter.koenig@tu- clausthal.de
Leitfähigkeitsmessgerät Resitomat 2304		Messung des elektrischen Widerstandes, Leitfähigkeit	0910	P. König	2461 peter.koenig@tu- clausthal.de
Thermoanalysegerät	DTA	Differenzthermoanalyse, Phasenumwandlungspunkte	0910	P. König	2461 peter.koenig@tu- clausthal.de
Röntgendiffraktometer D 500	RDF	Phasenanalyse	0910	P. König	2461 peter.koenig@tu- clausthal.de
Röntgendiffraktometer D 5000	RDF	Phasenanalyse, Textur, Eigenspannung	0910	P. König	2461 peter.koenig@tu- clausthal.de
Rasterelektronenmikroskop	REM	Oberfächen-, Gefüge-, Bruchflächeanalyse, EDX-Analysen	1910	P. König	2461 peter.koenig@tu- clausthal.de
Transmissionsel- ektronenmikroskop	TEM	Strukturanalyse, Phasencharakterisieung von Metallen	1910	P. König	2461 peter.koenig@tu- clausthal.de
Universalprüfmaschine	UPM	Zug-, Druckfestigkeit bei Temperatur, Typ 4507, Last +/- 200kN, Temperatur +500°C	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Universalprüfmaschine	UPM	Zug-, Druck-, Biegefestigkeit, Typ 5582, Last +/- 100kN, Laserdehnungsaufnehmer	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Dauerschwingmaschine	DSM	Dauerschwingparameter, Typ 8562, Last +/- 100kN, max. 1Hz	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Dauerschwingmaschine	DSM	Dauerschwingparameter, Typ 8501, Last +/- 100kN, max. 15Hz, +/- 50mm	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Dauerschwingmaschine	DSM	Dauerschwingparameter, Typ 8502	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Bohrloch-Messplatz		Eigenspannungsmessungen	1910	M. Kocan	2811 marcin.kocan@tu- clausthal.de
Kriech-Prüfsystem		Kriecheigenschaften metallischer Werkstoffe	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Resonanzmaschine	RM	Dauerschwingparameter	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Umlaufbiegemaschine, Rolls Royce	UBM	Dauerschwingparameter, 6,3Nm +Temperatur	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Umlaufbiegemaschine, Rolls Royce	UBM	Dauerschwingparameter, 6,3Nm	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Umlaufbiegemaschine, SyncoTec	UBM	Dauerschwingparameter, 10Nm	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Resonanzmaschine	RM	Dauerschwingparameter	1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Servo-hydraulische Prüfmaschine			1910	G. Neuse	2604 neuse@iww. tu-clausthal.de
Umlaufbiegeprüfstand, Rolls Royce	UB	Ermüdungsversuche in Umlaufbiegung bei konstanten Biegemoment (bis 6Nm)	0910	M. Kocan	2811 marcin.kocan@tu- clausthal.de
Umlaufbiegeprüfstand, SyncoTec	UB	Ermüdungsversuche im Umlaufbiegung bei konstanten Biegemoment (bis 30Nm)	0910	M. Kocan	2811 marcin.kocan@tu- clausthal.de
Resonanzprüfstand		Axiale Ermüdungsversuche bei konstanter Kraftamplitude und Mittelkraft (bis 100kN)	0910	T. Ludian	2977 tomasz.ludian@tu- clausthal.de
Resonanzprüfstand		Axiale Ermüdungsversuche (bis 100kN)	0910	M. Kocan	2811 marcin.kocan@tu- clausthal.de

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