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Fakultät für Natur- und Materialwissenschaften

Institut für Analytische und Anorganische Chemie

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr.
Verantwortlich
Tel/email
Röntgen-Einkristalldiffraktometer Stoe IPDS II XRD Strukturanalytik, Einkristallstrukturbestimmungen mittels Röntgenbeugung im Temperaturbereich von 80–400K 0200 M. Gjikaj
U. Peters
2887
mimoza.gjikaj@
tu-clausthal.de
Röntgen-Pulverdiffraktometer STADI P XRDStrukturanalytik, temperaturabhängige Röntgendiffraktometrie von 80–1250K, Phasenanalysen 0200M. Gjikaj
U. Peters
2887
mimoza.gjikaj@
tu-clausthal.de
Röntgen-Einkristalldiffraktometer CAD 4 XRDStrukturanalytik, Einkristallstrukturbestimmungen mittels Röntgenbeugung im Temperaturbereich von 80–400K0200M. Freytag
Cl. Ehrhardt
2486
martin.freytag@
tu-clausthal.de
Röntgen-Generator mit Röhrenhaube FR 509 XRDStrukturanalytik röntgenographische Phasenalaysen an mikrokristallinen Substanzen0200M. Freytag
Cl. Ehrhardt
2486
martin.freytag@
tu-clausthal.de
FTIR/FT-Raman-Spektrometer Bruker IFS 66v mit Raman-Modul FRA 106 FTIR/
FT-Raman
Spektroskopie und Strukturanalytik: hochauflösende Schwingungsspektroskopie0200M. Gjikaj
K. Bode
2887
mimoza.gjikaj@
tu-clausthal.de
Hochtemperatur Differential Scanning Calorimeter
Linseis HDSC 1550
DSCThermoanalytik, DSC/DTA-Messungen von 20–1550°C, Erstellung von Phasendiagrammen, Aufklärung von Abbaureaktionen auch in reduzierenden Atmosphären0200D. Vollbrecht
A. Strohschein
2608
dirk.vollbrecht@
tu-clausthal.de
Magnetschwebewaage RubothermTGThermoanalytik: Thermogravimetrie nach dem Magnetschwebewaagen-Prinzip, präparative Thermogravimetrie, Messungen unter aggressiven Atmosphären und unter Druck0200D. Vollbrecht
Cl. Ehrhardt
2608
dirk.vollbrecht@
tu-clausthal.de
Modulated Differential Scanning Calorimeter
TA 2920
DSCThermoanalytik: DSC-Messungen von 20–750°C, Erstellen von Phasendiagrammen0200D. Vollbrecht
A. Strohschein
2608
dirk.vollbrecht@
tu-clausthal.de
Differential Scanning Calorimeter
TA 910
DSCThermoanalytische Bestimmungen, Erstellen von Phasendiagrammen0200D. Vollbrecht
A. Strohschein
2608
dirk.vollbrecht@
tu-clausthal.de
Differential Thermal Analyzer
TA 1600
DTAThermoanalytik: DTA-Messungen bis 1600°C0200D. Vollbrecht
A. Strohschein
2608
dirk.vollbrecht@
tu-clausthal.de
Thermogravimetric Analyzer
TA 951
TGThermoanalytik: Thermogravimetrische Untersuchungen von 20–950°C0200D. Vollbrecht
A. Strohschein
2608
dirk.vollbrecht@
tu-clausthal.de
Dilatometer  402 EPTGThermoanalytik: Thermomechanische Längenausdehnung, Schmelzpunktbestimmungen0200D. Vollbrecht
A. Strohschein
2608
dirk.vollbrecht@
tu-clausthal.de
Glove Box
M.Braun UniLab 2000   
Präparation und Probenvorbereitung  in sauerstoff- und feuchtigkeitsfreier Atmosphäre, integriertes Polarisationsmikroskop0200M. Freytag
U. Peters
2486
martin.freytag@
tu-clausthal.de
Glove Box
M.Braun UniLab
Präparation und Probenvorbereitung in sauerstoff-
und feuchtigkeitsempfindlicher Substanzen
0200

M. Freytag
U. Peters

2486
martin.freytag@
tu-clausthal.de
UV/VIS-Spektrometer
Shimadzu UV-2501 PC
UV/VISSpektroskopie: Charakterisierung von Elektronenübergängen, Fotometrische Bestimmungen0200M. Gjikaj2887
mimoza.gjikaj@
tu-clausthal.de
UV/VIS-Spektrometer
Cary 1E
UV/VISCharakterisierung von Elektronenübergängen,
Fotometrische Bestimmungen
0200M. Gjikaj2484
mimoza.gjikaj@
tu-clausthal.de
UV-VIS Spektrometer
Lambda 40
UV/VISSpektroskopie: Lebensmittel, Naturstoffe,
Komplexverbindungen
0200M. Gjikaj
P. Lassen
2996
mimoza.gjikaj@
tu-clausthal.de
Elementaranalyzer
Heraeus CHNS    
Elementaranalyse: C, H, N, S-Analysator0200K. Bode2606
karin.bode@
tu-clausthal.de
Atomabsorptionsspektrometer, Perkin-Elmer Flammen-AASF-AASElementaranalyse: Gehaltsbestimmungen im Spuren- und Ultraspurenbereich, Gesamtgehalte0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Graphitrohr-AASGF-AASElementaranalyse: Gehaltsbestimmungen im Spuren- und Ultraspurenbereich, Gesamtgehalte0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Atomabsorptionsspektrometer
Multi-Element-AAS SIMAA 6000
AASElementaranalyse: Multi-Element-Bestimmung im Spuren- und Ultraspurenbereich0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
ICP-OES
Spectroflame SPECTRO
ICP-OESElementaranalyse: Multi-Element-Bestimmung, Übersichtsanalysen0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
HPLC-AnlageHPLCAnalytik aus Supermarktprodukten, Komplexchemie0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
HPLC-AnlageHPLCNaturstoffanalytik, Analytik Organischer Substanzen0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Ionenchromatographie mit Leitfähigkeitsdetektion ICElementar- und Elementspeziesanalytik0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Polarographie und Voltammetrie    Analytik von Elementspezies in verschiedenen Oxidationsstufen 0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Lumineszenzspektrometer
LS 50
Spektroskopie, Analytik0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Kapillarelektrophorese
Biofocus 3000
Analytik organischer und anorganischer Bindungsformen0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Photometer CADAS 50Bestimmung von org. und anorg. Komponenten mit Fertigtestsätzen, Enzymreaktionen/Enzymhemmtests/Toxizitätsbeurteilung0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de
Leuchtbakterientest LUMISTOXToxizitätstest verschiedener Verbindungen oder bestimmter Bindungsformen0200P. Lassen2996
petra.lassen@
tu-clausthal.de

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Institut für Metallurgie

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr. Verantwortlich
Tel/email
Glimmentladungs-
Atomspektrometer
GDOSMaterialanalysen (qualitativ, quantitativ) Tiefenprofile  bis 100µm,  min. 20mm Durchmesser porenfrei0500T. Möller, B. Brinkhaus2429
thomas.moeller@
tu-clausthal.de
Auflichtmikroskop BX60Auflicht Mikroskopie Phasenanalyse 0500B. Brinkhaus2648
bernd.brinkhaus@
tu-clausthal.de
Omicron XPS/URS/STM/AFMXPS/URS/STM/AFMOberflächen-, Strukur-, Chemische-Analyse0500F. Endres3141
frank.endres@
tu-clausthal.de
Picoscan STM+AFMSTM+AFMOberflächen-, Strukur-, Chemische-Analyse0500F. Endres3141
frank.endres@
tu-clausthal.de
Raster-Elektronenmikroskop CamScan 44REMMaterialanalysen (qualitativ, quantitativ) Darstellung der Oberflächentopographie z.B. Ermittlung von Schichtdicken und Elementverteilungsbilder0500S. Lenk, B. Mühlhan2429
bernd.brinkhaus@
tu-clausthal.de
Röntgendiffraktometer Siemens D5000RDFPulverdiffraktometrie, Einkristalldiffraktometrie, Phasenidentifikation0500B. Brinkhaus2649
guenter.borchardt@
tu-clausthal.de
Auflichtmikroskop Zeiss Axiphot Bildaufnahme, Flächenscans, Partikeldetektion 0500B. Brinkhaus2648
bernd.brinkhaus@
tu-clausthal.de

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Institut für Nichtmetallische Werkstoffe

Gerätebezeichnung Kurzform Zweck, Bestimmungsparameter Gebäudenr. Verantwortlich Tel/email
Mikroskopheiztisch Temperaturverhalten bis 1500 °C unter dem Mikroskop beobachten; max. 150 mg 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Erhitzungsmikroskop Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Erhitzungsmikroskop Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Optisches Dilatometer Thermischer Ausdehnungskoeffizient, Glastransformationstemperatur 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Laser Flash Apparatur LFA Bestimmung der Wärme- und Temperaturleitfähigkeit, inerte Atmosphäre, bis 1500 °C 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Dynamische Differenzkalorimetrie DDK (DSC) Thermische Analyse, Cp 1220 R. Al-Mukadam / D. Hart 2655 (raschid.al-mukadam@tu-clausthal.de) / 3826 (daniel.hart@tu-clausthal.de)
Thermogravimetrische Analyse mit ergänzender Differentialtkalorimetrie TGA/DSC Gravimetrische Analyse mit simultaner Differentialthermoanalyse 1220 R. Al-Mukadam 2655 (raschid.al-mukadam@tu-clausthal.de)
Chip-Kalorimetrie FDSC Thermische Analyse mit sehr hohen Heiz- und Kühlraten von 0.1 bis 40000 K/s 1220 R. Al-Mukadam 2655 (raschid.al-mukadam@tu-clausthal.de)
Simultane thermische Analyse - Massenspektrometrie STA-MS Differentialthermoanalyse, Thermogravimetrie und Erfassung der entweichenden Gase 1220 C. Rust 4906 (christian.rust@tu-clausthal.de)
Drehrohrofen Max. 1200 °C; 1 bis 11 Umdrehungen pro Minute 1220 S. Schöbel 3697 (sven.schoebel@tu-clausthal.de)
Hochtemperatur-Laboröfen Temperaturbehandlung 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Vakuumofen Maximum 700 °C, Vakuum 1*10^-2 mbar, Aufzeichnung p, T-Verlauf möglich 1220 J. Unseld 3128 (johannes.unseld@tu-clausthal.de)
Klimakammer Temperaturen von -40 °C bis 150 °C bei 30% bis 95% r.F. 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Isothermal Kalorimeter Messung der Hydratationsenergie, Lösungen und Suspensionen, zwischen 5 bis 90 °C 1220 C. Eichhorn 3697 (claudia.eichhorn@tu-clausthal.de)
Rotationsviskosimeter Scherviskosität 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Parallel-Platten-Viskosimeter Viskosität, Parallel-Plattengeometrie bzw. Kugelindentor 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Balkenbiegeviskosimeter Viskosität, Balkenbiegegeometrie 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Rheometer Viskosität 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Spektrophotometer, Farbmessgerät Farbortbestimmung in verschiedenen Farbräumen 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Infrarotspektrometer FTIR Transmission, Reflexion, 1 - 25 µm 1220 G. Helsch 2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
UV/VIS-Spektroskopie UV/VIS Transmission, Reflexion, 190 - 1100 nm 1220 G. Helsch 2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
Sekundärneutralteilchen Massenspektrometer SNMS Atomkonzentrationsprofile, nm-Tiefenauflösung 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Fokussierter Ionenstrahl - Feldelektronenmikroskop FIB-FESEM Messmethoden: SEM, STEM, EBSD, EDX 1220 R. Gustus 3346 (rene.gustus@tu-clausthal.de)
Digitales Laserscanning Mikroskop 3D-Ansicht, Topografie, Oberflächenrauheit, Vermessung 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Elektrokinetische Schallanalyse Isoelektrischer Punkt, Zeta-Potential 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Rasterelektronenmikroskop REM (SEM) Elektronenmikroskopie mit EDX 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Lichtmikroskop Auflicht und Transmission, Optische Analyse 1220 H. Bornhöft / R. Al-Mukadam 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de) / 2655 (raschid.al-mukadam@tu-clausthal.de)
Weißlichtinterferometer Oberflächentopografie, Oberflächenrauheit, 8 mm laterales Sichtfeld 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Spektralphotometer Chemische Analyse von An- und Kationen in wässrigen Lösungen 1220 C. Rust 4906 (christian.rust@tu-clausthal.de)
UV/VIS/IR-Spektroskopie UV/VIS/IR Solare Transmission, Reflexion, 250 - 3000 nm, Integrationskugel 1220 G. Helsch 2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
Profilometer Oberflächenrauhigkeit, Schichtdicke, Sputtertiefe 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Kontaktwinkelmessgerät Kontaktwinkelbestimmung auf Oberflächen, Oberflächenspannung 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Glanzmessgerät Messung des Glanzwinkels unter 20° 60° 85°, Reflexion der Oberfläche 1220 T. Peter 2079 (thomas.peter@tu-clausthal.de)
Gyrator Verdichtung erdfeuchter Proben 1220 S. Schöbel 3697 (sven.schoebel@tu-clausthal.de)
Laser-Doppler-Vibrometer elastische Konstanten (E-Modul) 1220 O. Bauer / J. Unseld 2251 (otto.bauer@tu-clausthal.de) / 3128 (johannes.unseld@tu-clausthal.de)
Schallmessgerät Bestimmung der Schallgeschwindigkeit und der elastschen Konstanten 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)
Geopyknometer Rohdichte, Porosität 1220 J. Unseld 3128 (johannes.unseld@tu-clausthal.de)
Laserbeugungs-Partikelgrößenanalyse Korngrößenverteilung im Bereich 0,04 µm - 2000 µm 1220 J. Unseld 3128 (johannes.unseld@tu-clausthal.de)
Beschleunigtes Oberflächen- und Porosimetrie-System BET spezifische Oberfläche 1220 O. Bauer 2251 (otto.bauer@tu-clausthal.de)
Schwindkegel Verhalten der Längenänderung, Schwindung bzw. Dehnung, Temperatur und Luftfeuchtigkeit 1220 F. Elsner 2172 (felix.elsner@tu-clausthal.de)
Gasabsorptionsanalyse Mischen und Konditionieren von Gasen zur Untersuchung von z.B. Gas-Feststoffreaktionen 1220 O. Bauer 2251 (otto.bauer@tu-clausthal.de)
Ultraschallmesszelle für Erstarrung Reaktionsverläufe, E-Modul 1220 S. Schöbel 3697 (sven.schoebel@tu-clausthal.de)
Edelgaspyknometer / Heliumpyknometer Dichtebestimmung, Keimdichte 1220 J. Unseld 3128 (johannes.unseld@tu-clausthal.de)
Röntgendiffraktometer RDF (XRD) Kristallphasen, Tief/Hochtemperaturkammer (-190 °C bis 1200 °C), dünne Schichten 1220 G. Helsch 2895 (gundula.helsch@tu-clausthal.de)
Röntgendiffraktometer RDF (XRD) Kristallstruktur 1220 M. Zellmann 2474 (michael.zellmann@tu-clausthal.de)
Röntgenfluoreszenzspektrometer RFA (XRF) chemische Analysen ab Ordnungszahl 4 1220 M. Zellmann 2474 (michael.zellmann@tu-clausthal.de)
Nasslöschkurve NLK Reaktivität von Branntkalk mit pdv-nlk3 1220 O. Bauer / S. Schöbel 2251 (otto.bauer@tu-clausthal.de) / 3697 (sven.schoebel@tu-clausthal.de)
Titration Freikalk nasschemisch u.a. 1220 C. Rust 3697 (sven.schoebel@tu-clausthal.de)
Handschuhbox Atmosphärischer Wassergehalt bis 150 ppm in N2-Atmosphäre 1220 H. Bornhöft 2062 (hansjoerg.bornhoeft@tu-clausthal.de)

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Institut für Organische Chemie

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr. Verantwortlich
Tel/email
Kernmagnetisches Resonanz-
Spektrometer 400 MHz
FT-NMRStrukturaufklärung, Protonen- und 13C- sowie Heterokern-NMR-Messungen1800J. Namyslo2054; 2833
jan.namyslo@
tu-clausthal.de
Kernmagnetische Resonanz-
Spektrometer 200 MHz
FT-NMRStrukturaufklärung, Protonen- und 13C-NMR-Messungen1800J. Namyslo2054; 2833
jan.namyslo@
tu-clausthal.de
Gaschromatograph-
Massenspektrometer mit Elektronenstoß-Ionisation
GC-MS, EIStrukturaufklärung organischer Verbindungen und Materialien, Molekül-  und Fragmentionen (Molmasse)1800A. Schmidt3861
schmidt@ioc.
tu-clausthal.de
Hochdruckflüssigkeitschromatograph-
Massenspektrometer mit Elektronenstoß-Ionisation
HPLC-MS, EIStrukturaufklärung, Analytik polarer Substanzen, auch höhermolekularer Materialien1800A. Schmidt3861
schmidt@ioc.
tu-clausthal.de
Infrarotspektrometer FT-IRSchwingungsspektroskopische Substanzcharakterisierungen1800J. Namyslo2054; 2833
jan.namyslo@
tu-clausthal.de
UV-SpektrometerUV-VISUV-Absorptionsverhalten1800J. Namyslo2054; 2833
jan.namyslo@
tu-clausthal.de
PolarimeterBestimmung des Drehwertes optisch aktiver Substanzen1800M. Ries2454
monika.ries@
tu-clausthal.de
Differential Scanning CalorimeterDSCDSC-Messungen an organischen Materialien, 20-350°C1800B. Stövesand2833
birgit.stoevesand@
tu-clausthal.de

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Institut für Physik und Physikalische Technologien

Gerätebezeichnung Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter Gebäudenr. Verantwortlich
Tel/email
FTIR-Spektrometer
Bruker IFS 66V/S
FTIR 1700 B. Braunschweig 3117 bjoern.braunschweig@tu-clausthal.de
Summenfrequenz-Schwingungs-Spektroskopie Summenfrequenz-Schwingungs-Spektroskopie an Fest-Flüssig-Grenzflächen 1700 B. Braunschweig 3117 bjoern.braunschweig@tu-clausthal.de
Photoelektronen-Emissions-Mikroskop PEEM Mehrphotonen-Photoemission mit lateraler Auflösung, Abbildung der lateralen Verteilung unbesetzter Zustände 1700 G. Lilienkamp 3615
gerhard.lilienkamp@
tu-clausthal.de
Low Energy Electron Microscope LEEM Wachstum und Interdiffusion ultradünner Schichten, chemische Reaktionen an Oberflächen 1700 G. Lilienkamp 3615
gerhard.lilienkamp@
tu-clausthal.de
Funkenerosionsmaschine Servomet Probenvorbereitung, Schneiden von Einkristallen 1700 Peter Cyris 2373/2296 peter.cyris@
tu-clausthal.de
Auger-Mikrosonde
Physical Electronics 595
Interdiffusion an Grenzflächen, Segregation, Degradation/Korrosion von dünnen Schichten und Oberflächen, Dotierung von Wellenleitern 1700 Peter Cyris 2373/2296
peter.cyris@
tu-clausthal.de
Rasterkraftmikroskop Dimension
3100 mit Nanoscope IIIa Controller
AFM Analyse deponierter dünner Schichten, Untersuchung Oberflächentopographie, hochauflösende laterale Materialuntersuchung, Defektanalyse von ultradünnen Oxidschichten 1700 Peter Cyris 2373/2296
peter.cyris@
tu-clausthal.de
fs-Lasersystem Second-Harmonic-Generation an Luft-Festkörper-, Vakuum-Festkörper- und Festkörper-Festkörper-Grenzflächen, lateral aufgelöste Mehrphotonen Photoemission 1700 W. Daum 3144
winfried.daum@
tu-clausthal.de
Rastertunnelmikroskop: Molecular Imaging
Picoscan 2100
RTM Elektrochemische Rastertunnelmikroskopie an Metall-Elektrolyt-Grenzflächen und Metall-Gas-Grenzflächen 1700 B. Braunschweig 3117
bjoern.braunschweig
@tu-clausthal.de
Multimethoden-Apparatur zur
Analyse von Ober- und Grenzflächen
XPS/UPS Valenzband- und Rumpfniveau-Elektronenspektroskopie an Festkörperoberflächen 1700 F. Voigts 2756
F.Voigts@
pe.tu-clausthal.de
Multimethoden-Apparatur zur Analyse von Ober- und Grenzflächen AFM/STM Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie im Ultrahochvakuum 1700 L. Klarhöfer 2745
L.Klarhoefer@
pe.tu-clausthal.de
Raster-Elektronen-Mikroskop
JEOL JSM 6400
REM Rasterelektronenmikroskop zur Analyse von Oberflächen 1700 E. Pachomov 3626
E.Pachomov@
pe.tu-clausthal.de
Multimethoden-Apparatur zur Analyse von Ober- und Grenzflächen bei Temperaturen zwischen 100K und 600K XPS/UPS
TPD
Valenzband- und Rumpfniveau-Elektronenspektroskopie an Festkörperoberflächen, Thermische Desorptionsspektroskopie 1700 L. Klarhöfer 2745
L.Klarhoefer@
pe.tu-clausthal.de
Reinraum Lithographie zur Herstellung von optischen Wellenleiterstrukturen 1700 C. Rüter 3621
c.rueter@pe.
tu-clausthal.de
Rasterelektronenmikroskop
JAMP 30, JEOL
REM 1700  
Optischer Vielkanalanalysator
OMA4, EG&G Princton Applied Research
Laserspektroskopie 1700 C. Bauer 4855
christoph.bauer@
tu-clausthal.de
Röntgendiffraktometer
D5000
RDF Texturmessanlage 1700 R. Schwarzer robert.schwarzer@
tu-clausthal.de
Gatan Ultrasonic Diskcutter 601 (Kernbohrer) TEM-Probenvorbereitung 1700 R. Schwarzer robert.schwarzer@
tu-clausthal.de
Gatan Dimple-Grinder TEM-Probenvorbereitung 1700 R. Schwarzer robert.schwarzer@
tu-clausthal.de

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Institut für Physikalische Chemie

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr. Verantwortlich
Tel/email
Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop CLSM Diffusionsverhalten in Polymerlösungen und –netzwerken, Abbildung von Partikeln, gefüllten u./o. inhomogenen 1820 Arne Langhoff 2527/3659
arne.langhoff@
tu-clausthal.de
Röntgendiffraktometer
Bruker D8 Discover
RDF 1820 Oleksiy Starykov 2898
starykov00@
yahoo.com
Analytische Ultrazentrifuge
Beckmann CO-XLA 70
Eigenschaften von Polyelektrolytlösungen 1820 Jörg Adams
3171
adams@pc.
tu-clausthal.de
Rasterkraftmikroskop, Digital Instruments AFM 1820 Judith Petri
3660
judith.petri@
tu-clausthal.de
Dynamische Lichtstreuung
ALV CGS-3
1820 Julia Gansel 2884
julia.gansel@
tu-clausthal.de
Differential Scanning Calorimeter Perkin-Elmer DSC 7 DSC 1820 Astrid Peschel 3662
astrid.peschel@
tu-clausthal.de
Rheometer
Bohlin Gemini
1820 Astrid Peschel 3662
astrid.peschel@
tu-clausthal.de
Infrarot-Spektrometer Perkin-Elmer-Spektrum BX IR 1820 Michael Tölle 3660/3127
michael.toelle@
tu-clausthal.de
Dynamisch-mechanische Thermoanalyse, GABO Qualimeter 1820 Jörg Adams 3171
adams@pc.
tu-clausthal.de
Statische Lichtstreuung
Fica
1820 Jörg Adams 3171
adams@pc.
tu-clausthal.de
Zeitaufgelöste Fluoreszenzspektroskopie 1820 Jörg Adams 3171
adams@pc.
tu-clausthal.de
Stationäres Fluoreszenzspektrometer
SPEX Fluorolog 2
1820 Jörg Adams 3171
adams@pc.
tu-clausthal.de
UV/VIS-Spektrometer
JASCO V-550
UV/VIS 1820 Jörg Adams 3171
adams@pc.
tu-clausthal.de
Spincoater SCS G3-P8 1820 Judith Petri 3660
judith.petri@
tu-clausthal.de
Potentiostat PGU 10
Jaissle
1820 Johanna Bünsow 2635
johanna.buensow
@tu-clausthal.de
Quarzmikrowaage HP 4396 A 1820 Johanna Bünsow 2635
johanna.buensow
@tu-clausthal.de
Ellipsometer, ELX-02C 1820 Arne Langhoff 2527/3659
arne.langhoff@
tu-clausthal.de
Dynamische Lichtstreuung
ALV
1820 Arne Langhoff 2527/3659
arne.langhoff@
tu-clausthal.de
Ausschlusschromatographie 1820 Ralf Student 3315/2898
ralf.student@
tu-clausthal.de
Fluoreszenzorientierungsanalysator OPOS 1820 Oleksiy Starykov 2898
starykov00@
yahoo.com

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Institut für Polymerwerkstoffe und Kunststofftechnik

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr.
Verantwortlich
Tel/email
AllzweckprüfmaschineZug, Druck, Biegung, 100 bzw. 2,5kN-Messdose, Makroaufnehmer, Raumtemp. (Zwick)1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de
TA 2920 DSCDSC

Modulierte DSC (MDSC), Temp.-Bereich:
–100 – 650°C

1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de
TA HiRes TGA 2950TGA

Messbereich:
–100 – 1000°C

1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de
TA DMA 2980DMAFilm, Faser, Drei-Punkt-Biegung, Torsion, Penetration, Kompression, Single- und Dual-Cantilever, T-Bereich: –100 – 650°C 1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de
Dataphysics-TensiometerTensiometerOberflächenspannung u. -energie, Ring, Platte, div. Probenhalter1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de
Netzsch TCA 200-LT/AWärmeleitfähigkeitsmesserRunde Kunststoffproben (mittlerer Leitfähigkeitsbereich), bis jeweils zum Schmelzezustand messbar1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de
Rheolyst AR 1000-NRheometerPlatte-Platte, Kegel-Platte, Torsion, Oszillierend, T-Bereich bis 350°C1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de
Ultraschallprüfanlage USPC 3040US-PrüfungPulser/Receiver-Karte HILL-SCAN 3040, 8 bit 100MSamples/s, Tauchtechnikprüfkopf (5MHz), Hillgus & Oculus, A-, C- und D-Bilder1900Cem Turan2602
cem.turan@
tu-clausthal.de
Zwick 5113SchlagpendelCharpy, gekerbt, ungekerbt, 1J- & 5J-Hammer 1910Petra Dröttboom2425
petra.droettboom@
tu-clausthal.de

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Institut für Technische Chemie

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr. Verantwortlich
Tel/email
SpektralphotometerUV-VIS0606
Gelpermeations-
chromatograph
GPCMolmassenbestimmung0606M. Heinz2785
martina.heinz@
tu-clausthal.de
Differentialthermoanalyse/ ThermogravimeterDTA/TGThermische Analyse0606U. Koecher2785
ulrike.koecher@
tu-clausthal.de
Viskosimeter, Rheometrics0606B. Holly3165
barbara.holly@
tu-clausthal.de
Viskosimeter, Schott AG0606
Schmelzindexprüfgerät, CEAST0606
Schmelzindexprüfgerät, CSI0606B. Holly3165
barbara.holly@
tu-clausthal.de
Elementaranalysator CHONSElementanalysen für
C, H, O, N, S
0606W. Bischof2273
Werner.Bischof@
tu-clausthal.de
Materialprüfmaschine0606
Massenspektrometer, MALDI-TOFMS0606
InfrarotspektrometerFTIR0606U. Koecher, B. Holly2785
ulrike.koecher@
tu-clausthal.de
Leitfähigkeitsmessgerät0606
Partikelgrößenanalysator0606

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Institut für Werkstoffkunde und Werkstofftechnik

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr. Verantwortlich
Tel/email
Atomemissions- SpektrometerAESElementanalyse in Metallurgie, Metallverarbeitung, Metallherstellung,
Typ Spectrolab
1910D. Brinkmann
F. Jörn
2759
franziska.joern@tu-
clausthal.de
Atomemissions- SpektrometerAESElementanalyse in Metallurgie, Metallverarbeitung, Metallherstellung,
Typ Spectromax
1910D. Brinkmann
F. Jörn
2759
dieter.brinkmann@tu-
clausthal.de
Auflichtmikroskop mit CCD Kamera
Materialografie, Gefügeanalyse, Pol.-Licht1910D. Brinkmann
J. Schumann
2759
dieter.brinkmann@tu-
clausthal.de
Auflichtmikroskopmit
Zeiss AXIO-CAM 
Materialografie, Gefügeanalyse, Pol.-Licht, DIC, Steuerelektronik mot/cod. Komponenten1910D. Brinkmann
J. Schumann
2171; 2759
joerg.schumann@tu-
clausthal.de
Halbautomatisches softwaregesteuertes Vickers HärteprüfgeratPhasenmessung, dünne Schichten1910D. Brinkmann
J. Schumann
2171; 2759
joerg.schumann@tu-
clausthal.de
Amplitudenabhängige
innere Reibung
ADIFInnere Reibung, E-modul, große mech. Spannungsamplituden bis zum Dauerbruch0300A. Mielczarek2599
agnieszka.mielczarek@tu-
clausthal.de
Spannungsrelaxations-
messgerät mit Thermostat
Spannungsrelaxationen0300A. Mielczarek2599
agnieszka.mielczarek@tu-
clausthal.de
HystereographKoerzitivfeldstärke, Remanenz, Sättigungspolarisation etc.0300A. Mielczarek2599
agnieszka.mielczarek@tu-
clausthal.de
ElastomatBestimmung v. Logarithmischem Dekrement u. Gitterfaktoren0300A. Mielczarek2599
agnieszka.mielczarek@tu-
clausthal.de
Thermoanalysegerät Bähr DIL 802Messung Längenausdehnung, Längenausdehnungskoeffizient0910P. König2461
peter.koenig@tu-
clausthal.de
Leitfähigkeitsmessgerät Resitomat 2304Messung des elektrischen Widerstandes, Leitfähigkeit0910P. König2461
peter.koenig@tu-
clausthal.de
ThermoanalysegerätDTADifferenzthermoanalyse, Phasenumwandlungspunkte0910P. König2461
peter.koenig@tu-
clausthal.de
Röntgendiffraktometer
D 500
RDFPhasenanalyse 0910P. König2461
peter.koenig@tu-
clausthal.de
Röntgendiffraktometer
D 5000
RDFPhasenanalyse, Textur, Eigenspannung0910P. König2461
peter.koenig@tu-
clausthal.de
RasterelektronenmikroskopREMOberfächen-, Gefüge-, Bruchflächeanalyse, EDX-Analysen1910P. König2461
peter.koenig@tu-
clausthal.de
Transmissionsel-
ektronenmikroskop
TEMStrukturanalyse, Phasencharakterisieung von Metallen1910P. König2461
peter.koenig@tu-
clausthal.de
UniversalprüfmaschineUPMZug-, Druckfestigkeit bei Temperatur, Typ 4507,
Last +/- 200kN, Temperatur +500°C
1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
UniversalprüfmaschineUPMZug-, Druck-, Biegefestigkeit, Typ 5582, Last +/- 100kN, Laserdehnungsaufnehmer1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
DauerschwingmaschineDSMDauerschwingparameter, Typ 8562, Last +/- 100kN, max. 1Hz1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
DauerschwingmaschineDSMDauerschwingparameter, Typ 8501, Last +/- 100kN, max. 15Hz, +/- 50mm1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
DauerschwingmaschineDSMDauerschwingparameter, Typ 85021910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
Bohrloch-MessplatzEigenspannungsmessungen1910M. Kocan2811
marcin.kocan@tu-
clausthal.de
Kriech-PrüfsystemKriecheigenschaften metallischer Werkstoffe1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
ResonanzmaschineRMDauerschwingparameter1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
Umlaufbiegemaschine,
Rolls Royce
UBMDauerschwingparameter,
6,3Nm +Temperatur
1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
Umlaufbiegemaschine,
Rolls Royce
UBMDauerschwingparameter,
6,3Nm
1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
Umlaufbiegemaschine,
SyncoTec
UBMDauerschwingparameter,
10Nm
1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
ResonanzmaschineRMDauerschwingparameter1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
Servo-hydraulische
Prüfmaschine
1910G. Neuse2604
neuse@iww.
tu-clausthal.de
Umlaufbiegeprüfstand,
Rolls Royce
UBErmüdungsversuche in Umlaufbiegung bei konstanten Biegemoment (bis 6Nm)0910M. Kocan2811
marcin.kocan@tu-
clausthal.de
Umlaufbiegeprüfstand,
SyncoTec
UBErmüdungsversuche im Umlaufbiegung bei konstanten Biegemoment (bis 30Nm)0910M. Kocan2811
marcin.kocan@tu-
clausthal.de
ResonanzprüfstandAxiale Ermüdungsversuche bei konstanter Kraftamplitude und Mittelkraft (bis 100kN)0910T. Ludian2977
tomasz.ludian@tu-
clausthal.de
ResonanzprüfstandAxiale Ermüdungsversuche (bis 100kN)0910M. Kocan2811
marcin.kocan@tu-
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