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Fakultät für Mathematik/Informatik und Maschinenbau

Institut für Chemische Verfahrenstechnik

Gerätebezeichnung Kurzform Zweck, Bestimmungsparameter Gebäudenr. Verantwortlich Tel/email
Fourier-Transform-
Infrarotspektrometer mit Attenuated Total
Reflectance Sonde
FTIR-ATRAnalyse bei chemischen Flüssigphasen-Reaktionen bis 200°C, 100bar2610B. Pfeuffer2561
pfeuffer@icvt.
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Fourier-Transform-
Infrarotspektrometer
FTIRAnalyse bei chemischen Gasphasen-Reaktionen bis 150°C, 20bar2610C. Perbandt2551
perbandt@icvt.
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Hochdruckflüssigkeits- ­ChromatographHPLCQuantitative Analyse von Einzelkomponenten in einer Mischung2610C. Eisenbeis2561
eisenbeis@icvt.
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SpektrophotometerUV-VISQuantitative Analyse von Flüssigkeiten2610H. Langer2827
langer@icvt.
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Catalyst Analyzer
BEL-Cat
TPRBestimmung von Metalloberflächen, temperaturprogrammierte Reduktion und Desorption2610H. Langer2827
langer@icvt.
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ZetasizerZetapotential- und Partikelgrößenmessung2610S. Neubauer2181
neubauer@icvt.
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Karl-Fischer-TitratorWasserbestimmung2610H. Langer2827
langer@icvt.
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GaschromatographenGCQuantitative Analyse von Einzelkomponenten in einer Mischung2610B. Pfeuffer2561
pfeuffer@icvt.
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Lumisizer Untersuchung des Sedimentationsverhaltens von Suspensionen im nm und µm-Bereich2610S. Machunsky2181
machunsky@icvt.
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IR-SpektrometerIROnline-Analyse von NOx, N2O und NH3 bei atmosphärischem Druck bis 2000ppm2610C. Perbandt2551
perbandt@icvt.
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Institut für Mechanische Verfahrenstechnik

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr.Verantwortlich
Tel/email
Transmissionselektronenmikroskop
JEM-2010
TEMCharakterisierung von Partikeln <10nm
(Sinterprozesse, homogene Nukleation, Kontaktphänomene, 3D-Tomographie, Fragmentierungsprozesse)
2620 P. Knospe2180/2801
knospe@mvt.
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Thermo-Mikrowaage
TG 209 F1
TGAUntersuchung von Oxidations- und Desorptionsprozessen an nanoskaligen Pulvern2620P. Knospe2180/2801
knospe@mvt.
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Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Gemini DSM 982REM
Charakterisierung der Morphologie von Partikelstrukturen2620P. Knospe2180/2801
knospe@mvt.
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Differentieller Mobilitätsanalysator + Kondensationskernzähler SMPS + CDMA+CPCPartikelgrößenanalyse von Aerosolen <1µm, Aerosolgenerator für monodisperse PartikelmobilT. Wu2117
tao.wu@mvt.
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Laserbeugungsspektrometer
Helos   
Größenanalyse von Aerosolen und Suspensionen und Blasen (0,1–2000µm)2610P. Knospe2180/2801
knospe@mvt.
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Gemini 2360    BETMessung der spezifischen Oberfläche von Pulvern2620 P. Knospe2180/2801
knospe@mvt.
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Institut für Schweißtechnik und trennende Fertigungsverfahren

Gerätebezeichnung
Kurzform
Zweck, Bestimmungsparameter
Gebäudenr.
Verantwortlich
Tel/email
Rasterelektronenmikroskop Joel JSM35CREMBruch- und Oberflächenuntersuchungen, EDX-Analysen, Ermittlung Oberflächentopographie sowie quantitativen Topographiekennwerten0910Hoffmann/
Dr. Reiter

2654/2314
rolf.hoffmann@
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Ultraschallmikroskope KSI WIN-SAM100 und ASM2000UltraschallmikroskopVisualisierung von Imperfektionen, Gefügeaufbau in oberflächennahen Werkstoffvolumina von festen Werkstoffen2100Dr. Schram 2110
schram@isaf.
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